-

JEOL:新CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / IB-19550CCP發表

- 物聯網CROSS SECTION POLISHER™應運而生 -

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布於2024年9月4日推出用於電子顯微鏡的新型CROSS SECTION POLISHER™(截面拋光機)IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™(冷卻截面拋光機)IB-19550CCP。

CROSS SECTION POLISHER™ (CP)廣泛應用於電子零件、陶瓷、生命科學、金屬、電池和聚合物等領域。機械高品質等截面可以針對複雜材料和易碎樣品進行輕鬆製備。

自2003年推出以來,CP已取得超過2000台的銷售記錄,一直是重要的預處理工具。

經過改進的IB-19540CP / IB-19550CCP更加易于使用。全新GUI(圖形化使用者介面)和 IoT(物聯網)的結合進一步提高了易用性,並可透過PC進行遠端控制和銑削過程監控。高通量離子源和高通量冷卻系統能夠快速製備光滑的橫截面,同時減少損傷。

主要特點

1. 全新的GUI和物聯網(IoT)

採用新的GUI使操作步驟變得易於理解。
按照控制台上的流程圖即可輕鬆設定。
預設功能可用於保存和調用針對特定應用或樣品類型的訂製型過程條件。
透過連接到LAN,可經由Web瀏覽器對CP進行遠端存取和控制。
可以監控和調整多個CP的銑削過程。

2. 高通量離子源

高通量離子源是一項標配。透過離子源電極最佳化和提高加速電壓,離子電流密度得到了改進。現在的標準橫截面銑削速率為1200 μm/h*,這將有助於減少加工所需的時間。
*銑削1小時,Si等效值,刃距:100 μm

3. 高通量冷卻系統

高通量冷卻系統和新的GUI實現了從冷卻到恢復到室溫的自動運行。因此,等待時間得以減少,同時有助於縮短工作所需的時間。
可以從CP側對液氮罐周圍進行抽真空,以保持冷卻停留時間和樣品冷卻溫度。

年度產品銷售目標
180台/年

相關連結
產品資訊:CROSS SECTION POLISHER™ IB-19540CP / COOLING CROSS SECTION POLISHER™ IB-19550CCP
https://www.jeol.com/products/scientific/cp/IB-19540CP_IB-19550CCP.php

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Izumi Oi,總裁兼執行長
(股票代號:6951,東京證券交易所主要市場)
www.jeol.com

免責聲明:本公告之原文版本乃官方授權版本。譯文僅供方便瞭解之用,煩請參照原文,原文版本乃唯一具法律效力之版本。

Contacts

JEOL Ltd.
科學和測量儀器銷售部
電話:+81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php

JEOL Ltd.

TOKYO:6951


Contacts

JEOL Ltd.
科學和測量儀器銷售部
電話:+81-3-6262-3567
https://www.jeol.com/contacts/products.php

More News From JEOL Ltd.

JEOL:推出雷射掃描式電子顯微鏡系統「LazEdge」

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd.(總裁兼執行長:Izumi Oi)成功研發出配備雷射加工系統的掃描式電子顯微鏡(SEM)系統「LazEdge」,並於2026年5月25日正式上市銷售。 諸如聚焦離子束系統(FIB系統)等截面樣品製備儀器已廣泛應用於科研院所、大學及工業界等科技領域。近年來,市場對能夠進行高速度、大面積加工,同時又能保證高品質加工表面的系統的需求與日俱增。「LazEdge」是將JEOL的SEM與Hamamatsu Photonics K.K.的專有雷射技術相結合的儀器,實現了在電子顯微鏡樣品室內直接進行雷射加工。 該系統透過高速、大面積加工製備出高品質的截面樣品,隨後可在不暴露於外部環境的情況下,順暢切換至後續分析,如SEM觀察、元素分析和晶體方位分析。因此,它能夠滿足廣泛的分析需求,包括金屬樣品分析、需要隔絕空氣的電池分析,以及需要快速製備截面的半導體失效分析。 [主要特點] 樣品室內的高品質截面加工 透過將雷射加工系統集成到SEM中,LazEdge利用能夠對雷射光束進行空間相位調製的專有光學系統,實現了在樣品室內高速進行...

JEOL:推出新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣佈將於2024年7月28日發佈新款Schottky Field Emission Scanning Electron Microscope JSM-IT810。 場發射掃描電子顯微鏡(FESEM)廣泛應用於科研機構、大學和工業等科技領域。人們越來越需要一種從觀察到分析都可以輕鬆、準確、快速、高效使用的儀器。 JSM-IT810在JSM-IT800的基礎上增加了「Neo Action」自動觀察和分析功能以及自動校準功能,並配備了新一代電子光學控制系統「Neo Engine」和「SEM Center」,實現了Zeromag和EDS整合等高操作性,不僅可以提高效率和生產力,還有助於解決勞動力短缺問題。 主要功能 1. 自動觀察和分析功能「Neo Action」 您只需選擇SEM影像擷取條件和視場,該功能就會自動執行SEM觀察和EDS(能量色散X射線光譜)分析。 該功能有助於提高日常工作(包括分析工作)的效率。 2. 自動校準功能「SEM Automa...

JEOL:即將發布掃描電子顯微鏡JSM-IT710HR/JSM-IT210

東京--(BUSINESS WIRE)--(美國商業資訊)-- JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(總裁兼執行長:Izumi Oi)宣布將於2023年7月23日發布掃描電子顯微鏡JSM-IT710HR/JSM-IT210。 掃描電子顯微鏡廣泛用於從基礎研究、生產線、品質保證到研發的各個階段,其應用領域包括金屬、半導體、電池、生物科技和聚合物等。使用者越來越希望掃描電子顯微鏡能夠更方便地幫助他們確認成分資訊,而無需關心觀測和分析過程。 JSM-IT710HR改進了電子槍的穩定性,JSM-IT210則採用了5軸馬達控制的樣品台。兩款型號均提升了用於觀測和分析的自動測量功能,從而顯著提高了掃描電子顯微鏡(SEM)的綜合能力。這兩款儀器將滿足近年來市場對自動測量的需求,有助於提高日常工作的效率。 主要功能 1. Simple SEM功能可自動取得SEM影像並進行EDS分析 利用Simple SEM功能,使用者只需設定SEM影像的採集條件和視場,即可自動獲得SEM影像和EDS(能量色散X射線光譜測定)分析的結果。該功能將有助於提高包括分析在內的日常工作效率。 2. Live3D功能可現...
Back to Newsroom